IEEE 517-1974
単一自由度レート統合ジャイロスコープ仕様フォーマットガイドとテスト手順

規格番号

IEEE 517-1974

制定年

1974

出版団体

IEEE - The Institute of Electrical and Electronics Engineers@ Inc.

状態

入れ替わる

に置き換えられる

IEEE 517/COR-2010

最新版

IEEE 517/COR-2014

範囲

この仕様は、[姿勢制御システム @ ジンバル プラットフォーム @ 角変位測定システム @ 角速度測定システム @ _________________________] のセンサーとして使用される単一自由度速度積分ジャイロの要件を定義します。 外部電子機器や制御システムはジャイロの一部とは見なされません。

IEEE 517-1974 発売履歴

• 2014 IEEE 517/COR-2014 単一自由度のバネ制限レート ジャイロスコープの仕様とテスト手順の修正
• 2010 IEEE 517/COR-2010 単一自由度のバネ制限レート ジャイロスコープの仕様、寸法、およびテスト手順。
• 1974 IEEE 517-1974 単一自由度レート統合ジャイロスコープ仕様フォーマットガイドとテスト手順
• 1973 IEEE 517-1973 単一自由度積分ジャイロスコープの標準仕様フォーマットガイドとテスト手順