ASTM E763-91
閾値箔測定データを使用した中性子照射による吸収線量計算の実践 (1997 年に撤回)

規格番号

ASTM E763-91

制定年

2021

出版団体

American Society for Testing and Materials (ASTM)

最新版

ASTM E763-91

範囲

1.1 放射線影響試験の結果は、試験対象の物質の吸収線量と相関関係があります。 この演習では、材料組成、中性子フルエンス、中性子スペクトルに関連する閾値フォイル データといった情報を考慮して、材料内の吸収線量を計算する手順の概要を説明します。 この実践は、変位によって引き起こされるシリコン内の総吸収線量の割合を計算するためにも使用できます (実践 E 722 を参照)。 この量を使用して、シリコン半導体デバイスの相対的な永久損傷をあるテスト施設から別のテスト施設に相関付けることができます。 この手法は、中性子フルエンスのかなりの部分が外熱エネルギーを超える (つまり、E > 0.01 MeV) ゴディバまたは TRIGA タイプの高速パルス炉に適用できます。 このような原子炉からの中性子線とガンマ線の混合放射線にさらされた材料は、両方のコンポーネントからエネルギーを吸収します。 この実践は、中性子吸収線量を計算する手順を提供し、関連規格である実践 E 666 には、ガンマ線成分から生じる吸収線量を計算する手法が記載されています。 表化されたカーマ係数が利用可能な材料に限定されます。 1.2 実用的な範囲で、この実践全体を通じて国際単位系 (SI) が使用されます (実践 E 380 を参照)。 SI単位で記載されている値は目安となります。 1.3 この規格は、その使用に関連する安全上の問題がある場合、そのすべてに対処することを目的とするものではありません。 適切な安全衛生慣行を確立し、使用前に規制上の制限の適用可能性を判断することは、この規格のユーザーの責任です。

ASTM E763-91 発売履歴

• 2021 ASTM E763-91 閾値箔測定データを使用した中性子照射による吸収線量計算の実践 (1997 年に撤回)