UNE-EN 60749-37:2008
半導体デバイスの機械的および気候的試験方法 パート 37: 加速度計を使用した基板レベルの落下試験方法

規格番号

UNE-EN 60749-37:2008

制定年

2008

出版団体

ES-UNE

最新版

UNE-EN 60749-37:2008

UNE-EN 60749-37:2008 発売履歴

• 2008 UNE-EN 60749-37:2008 半導体デバイスの機械的および気候的試験方法 パート 37: 加速度計を使用した基板レベルの落下試験方法