IEEE No 300-1969*USAS N42.1-1969
半導体放射線検出器 (電離放射線) の米国規格および IEEE 試験手順

規格番号

IEEE No 300-1969*USAS N42.1-1969

制定年

1968

出版団体

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)

状態

入れ替わる

に置き換えられる

IEEE 300-1982

最新版

IEEE 300-1988

範囲

半導体放射線検出器は、電離放射線の検出と高分解能分光法のために近年広く使用されるようになりました。 シリコン検出器とゲルマニウム検出器の両方が開発されており、シリコンは重荷電粒子の検出と分析に主に使用されています。 (シリコンと比較して)比較的原子番号が高い...

IEEE No 300-1969*USAS N42.1-1969 発売履歴

• 1988 IEEE 300-1988 半導体荷電粒子検出器の標準試験手順
• 1982 IEEE 300-1982 半導体荷電粒子検出器の標準試験手順
• 1968 IEEE No 300-1969*USAS N42.1-1969 半導体放射線検出器 (電離放射線) の米国規格および IEEE 試験手順