SAE J1752-3-1995
集積回路の電磁両立性測定手順 集積回路からの放射性エミッションの測定手順 150 kHz ～ 1000 MHz TEM セルの推奨実施方法 (1995 年 3 月)

規格番号

SAE J1752-3-1995

制定年

1995

出版団体

SAE - SAE International

状態

入れ替わる 2011-07

に置き換えられる

SAE J1752-3-2003

最新版

SAE J1752-3-2017

SAE J1752-3-1995 発売履歴

• 2017 SAE J1752-3-2017 集積回路の電磁適合性測定手順 集積回路の EMC 測定手順の一般原則と定義
• 2011 SAE J1752-3-2011 集積回路からの放射の測定 EM/広帯域 TEM (GTEM) セル法、TEM セル (150 kHz ～ 1 GHz) 広帯域 TEM セル (150 kHz ～ 8 GHz)
• 2003 SAE J1752-3-2003 集積回路の電磁適合性測定手順 集積回路の EMC 測定手順の一般原則と定義
• 1995 SAE J1752-3-1995 集積回路の電磁両立性測定手順 集積回路からの放射性エミッションの測定手順 150 kHz ～ 1000 MHz TEM セルの推奨実施方法 (1995 年 3 月)