NEMA MITA WP 1-2017
コンピュータ断層撮影画像品質 (CTIQ): 線量低減技術を使用した場合の低コントラスト検出可能性 (LCD) の評価

規格番号
NEMA MITA WP 1-2017
制定年
2017
出版団体
NEMA - National Electrical Manufacturers Association
最新版
NEMA MITA WP 1-2017
範囲
目的 過去 10 年間に、基本的な CT 技術は数多くの改良が加えられ、放射線量を削減し、画質を向上させてきました。 しかし、最近の非線形再構成アルゴリズムの導入により、画質を特徴付けるために使用される多くの従来の指標は、これらのアルゴリズムのパフォーマンスを評価するには不十分です。 非線形アルゴリズムは、その効果が取得技術やテスト オブジェクト自体に依存する可能性があるため、パフォーマンス評価に課題をもたらします。 したがって、線量低減と画質の間のトレードオフを評価するには、以前の CT 技術よりも高度な技術が必要です。 このホワイトペーパーは、幅広い関係者 (規制当局、放射線科医、医師、CT 技師、医学物理学者を含む) に、Medical Imaging Technology Alliance (MITA) が利用している現在の技術とツール (ファントム) の概要を提供することを目的としています。 放射線量の関数として低コントラスト検出可能性 (LCD) を評価します。 MITA は、この活動における米国食品医薬品局 (FDA) と産業界とのパートナーシップを評価したいと考えています。

NEMA MITA WP 1-2017 発売履歴

  • 2017 NEMA MITA WP 1-2017 コンピュータ断層撮影画像品質 (CTIQ): 線量低減技術を使用した場合の低コントラスト検出可能性 (LCD) の評価
コンピュータ断層撮影画像品質 (CTIQ): 線量低減技術を使用した場合の低コントラスト検出可能性 (LCD) の評価



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