UNE-EN 62374-1:2010
半導体デバイス パート 1: 金属間時間依存絶縁破壊 (TDDB) 試験

規格番号

UNE-EN 62374-1:2010

制定年

2011

出版団体

ES-UNE

最新版

UNE-EN 62374-1:2010

UNE-EN 62374-1:2010 発売履歴

• 2011 UNE-EN 62374-1:2010 半導体デバイス パート 1: 金属間時間依存絶縁破壊 (TDDB) 試験