DIN EN 60749-29:2012-01
半導体デバイスの機械的および気候的試験方法 第 29 部: ラッチアップ試験
- 規格番号
- DIN EN 60749-29:2012-01
- 制定年
- 2012
- 出版団体
- German Institute for Standardization
- 最新版
- DIN EN 60749-29:2012-01
DIN EN 60749-29:2012-01 発売履歴
- 2012 DIN EN 60749-29:2012-01 半導体デバイスの機械的および気候的試験方法 第 29 部: ラッチアップ試験
