EN 60749-28:2017
半導体デバイスの機械的および気候的試験方法 パート 28: 静電気放電 (ESD) 感度試験 帯電デバイス モデル (CDM) デバイス レベル

規格番号

EN 60749-28:2017

制定年

2017

出版団体

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）

最新版

EN 60749-28:2017

範囲

IEC 60749-28:2017(E) は、定義された電界誘起帯電デバイス モデル (CDM) の静電放電 ( ESD)。 すべてのパッケージ化された半導体デバイス、薄膜回路、表面弾性波 (SAW) デバイス、光電子デバイス、ハイブリッド集積回路 (HIC)、およびこれらのデバイスのいずれかを含むマルチチップ モジュール (MCM) は、この文書に従って評価されます。 。 テストを実行するために、デバイスは最終アプリケーションで期待されるものと同様のパッケージに組み立てられます。 この CDM 文書は、ソケット放電モデル テスターには適用されません。 この文書では、フィールド誘起 (FI) 法について説明します。 別の方法である直接接触 (DC) 法については、付録 I で説明されています。 この文書の目的は、CDM 障害を再現し、デバイスに関係なく、信頼性が高く再現性のある CDM ESD テスト結果をテスター間で提供するテスト方法を確立することです。 タイプ。 再現可能なデータにより、CDM ESD 感度レベルの正確な分類と比較が可能になります。

EN 60749-28:2017 発売履歴

• 2017 EN 60749-28:2017 半導体デバイスの機械的および気候的試験方法 パート 28: 静電気放電 (ESD) 感度試験 帯電デバイス モデル (CDM) デバイス レベル