PD IEC TS 62607-3-3:2020
ナノ加工発光ナノ材料の重要な制御特性 時間相関単一光子計数法 (TCSPC) を使用した半導体量子ドットの蛍光寿命の測定
- 規格番号
- PD IEC TS 62607-3-3:2020
- 制定年
- 2020
- 出版団体
- British Standards Institution (BSI)
- 最新版
- PD IEC TS 62607-3-3:2020
PD IEC TS 62607-3-3:2020 発売履歴
- 2020 PD IEC TS 62607-3-3:2020 ナノ加工発光ナノ材料の重要な制御特性 時間相関単一光子計数法 (TCSPC) を使用した半導体量子ドットの蛍光寿命の測定
