DB44/T 1527-2015
マイクロビーム解析走査型電子顕微鏡画像鮮鋭性評価法 (英語版)

規格番号

DB44/T 1527-2015

言語

中国語版, 英語で利用可能

制定年

2015

出版団体

Guangdong Provincial Standard of the People's Republic of China

最新版

DB44/T 1527-2015

範囲

この規格は、用語の定義、SEM 画像を取得する手順、SEM 画像の取得、画像内の領域の選択、特定の評価方法および試験レポートなどを含む、走査型電子顕微鏡 (SEM) の画像の鮮明さの評価に適用されます。 このうち評価手法には、フーリエ変換（FT）法、コントラスト勾配（CG）法、差分（DR）法などがあります。

DB44/T 1527-2015 発売履歴

• 2015 DB44/T 1527-2015 マイクロビーム解析走査型電子顕微鏡画像鮮鋭性評価法