T/CES 195-2023
部分放電光ファイバセンシング検出技術 第2部:センシングデバイスの性能試験と評価 (英語版)

規格番号
T/CES 195-2023
言語
中国語版, 英語で利用可能
制定年
2023
出版団体
Group Standards of the People's Republic of China
最新版
T/CES 195-2023
範囲
この文書は、電気機器に使用される部分放電光ファイバーセンシングデバイスの検出方法と評価要件を規定します。 (1) 部分放電光ファイバセンシングデバイスの基本構造 部分放電光ファイバセンシングデバイスの基本構造について説明します。 (2) 検出方法は、試験条件、試験内容、注意事項、ループ構成、試験装置の性能要件、感度試験、振幅測定範囲試験、信号対雑音比試験、振幅分解能試験、振幅精度試験に基づくものとする。 、振幅値直線性試験、応答時間試験、パルス分解能時間試験、検出周波数帯域試験、熱ゼロ点オフセット試験、熱フルスケール出力オフセット試験は、部分放電光ファイバセンシングデバイスの検出方法を規定しています。 (3) 機能評価では、部分放電光ファイバセンシングデバイスの振幅検出機能、時間検出機能、波形検出機能に応じた機能評価要件を規定する。 (4) 性能パラメータの式は、感度、振幅測定範囲、信号対雑音比、振幅分解能、振幅検出精度、振幅検出直線性、熱ゼロ オフセット、および部分放電ファイバの熱フルスケール出力オフセットに基づいています。 性能パラメータの計算式はセンシングデバイスの検出方法で説明します。 (5) 部分放電の検出方法は、円盤状、樽状、円筒状の試験ブロックの材質、機械的寸法、固定位置、励起源の配置、受光部の配置に応じて試験を行う。 光ファイバセンシングデバイスのブロックについて説明します。

T/CES 195-2023 発売履歴

  • 2023 T/CES 195-2023 部分放電光ファイバセンシング検出技術 第2部:センシングデバイスの性能試験と評価



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