SAE J2052-2016
テストセットアップの総接触時間分析
- 規格番号
- SAE J2052-2016
- 制定年
- 2016
- 出版団体
- SAE - SAE International
- 最新版
- SAE J2052-2016
- 範囲
- この方法論は、頭部 @ および頭部 3 軸加速度計にしっかりと取り付けられた上部ネック 3 軸ロードセルを備えたすべてのテスト装置を使用して、HIC@ のすべての計算に使用できます。 目的 この SAE 情報レポートの目的は、接触スイッチや写真に依存せずに、HIC の計算に使用するヘッドの係合時間と解放時間を決定するためのコンピューター適応技術を説明することです。
SAE J2052-2016 発売履歴
- 2016 SAE J2052-2016 テストセットアップの総接触時間分析
- 2011 SAE J2052-2011 テストセットアップの総接触時間分析
- 2005 SAE J2052-2005 頭部接触時間解析用試験装置
- 1997 SAE J2052-1997 試験装置ヘッドの接触時間分析
- 1990 SAE J2052-1990 テストセットアップの総接触時間分析
