IEC 63003:2015
IEEE Std 1505 (リビジョン 1.0) を使用した、高密度単層電子テスト要件向けの共通テスト インターフェイス ピン ダイアグラム構成標準

規格番号

IEC 63003:2015

制定年

2015

出版団体

IEC - International Electrotechnical Commission

最新版

IEC 63003:2015

範囲

この規格の範囲は、IEEE 1505 を利用したピン マップの定義です。 1 受信機インターフェース (RFI)。 この規格内で定義されたピン マップは、軍事および航空宇宙用の自動試験装置 (ATE) の試験アプリケーションに適用されます。 目的 共通の入出力 (I/O) の標準化により、複数の ATE 上で IEEE 1505 準拠のインターフェイス フィクスチャ [インターフェイス テスト アダプタ (ITA)@ インターフェイス デバイス (ID)@ または相互接続デバイス (ICD) とも呼ばれます] の相互運用性が可能になります。 IEEE 1505 RFI を利用するシステム。

IEC 63003:2015 発売履歴

• 2015 IEC 63003:2015 IEEE Std 1505 (リビジョン 1.0) を使用した、高密度単層電子テスト要件向けの共通テスト インターフェイス ピン ダイアグラム構成標準