IEC 60749-23:2004/AMD1:2011
半導体デバイス、機械的および気候的試験方法、パート 23: 高温動作寿命

規格番号

IEC 60749-23:2004/AMD1:2011

制定年

2011

出版団体

International Electrotechnical Commission (IEC)

最新版

IEC 60749-23:2004/AMD1:2011

IEC 60749-23:2004/AMD1:2011 発売履歴

• 2011 IEC 60749-23:2004/AMD1:2011 半導体デバイス、機械的および気候的試験方法、パート 23: 高温動作寿命
• 2011 IEC 60749-23:2011 半導体デバイス、機械的および気候的試験方法、パート 23: 高温での動作寿命。
• 2004 IEC 60749-23:2004 半導体デバイス、機械的および気候的試験方法、パート 23: 高温動作寿命