IEEE/IEC 63003-2015
IEC/IEEE IEEE Std 1505(TM) を使用した、高密度、単層電子テスト要件向けの共通テスト インターフェイス ピン マップ構成の国際規格

規格番号

IEEE/IEC 63003-2015

出版団体

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)

最新版

IEEE/IEC 63003-2015

IEEE/IEC 63003-2015 発売履歴

• 1970 IEEE/IEC 63003-2015 IEC/IEEE IEEE Std 1505(TM) を使用した、高密度、単層電子テスト要件向けの共通テスト インターフェイス ピン マップ構成の国際規格