IEEE/IEC 63003-2015
IEC/IEEE IEEE Std 1505(TM) を使用した、高密度、単層電子テスト要件向けの共通テスト インターフェイス ピン マップ構成の国際規格

規格番号
IEEE/IEC 63003-2015
出版団体
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
最新版
IEEE/IEC 63003-2015

IEEE/IEC 63003-2015 発売履歴

  • 1970 IEEE/IEC 63003-2015 IEC/IEEE IEEE Std 1505(TM) を使用した、高密度、単層電子テスト要件向けの共通テスト インターフェイス ピン マップ構成の国際規格



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