DIN 50454-3:1994
半導体プロセス材料の検査 III-V族化合物半導体単結晶の転位腐食ピット密度の測定 その3 リン化ガリウム

規格番号
DIN 50454-3:1994
制定年
1994
出版団体
German Institute for Standardization
状態
最新版
DIN 50454-3:1994
範囲
この文書は、リン化ガリウムの単結晶における転位エッチピット密度 100000 cm を測定するための試験方法を指定しています。 この方法は、材料の電気抵抗率や導電率の種類には依存しません。

DIN 50454-3:1994 発売履歴

  • 1994 DIN 50454-3:1994 半導体プロセス材料の検査 III-V族化合物半導体単結晶の転位腐食ピット密度の測定 その3 リン化ガリウム
半導体プロセス材料の検査 III-V族化合物半導体単結晶の転位腐食ピット密度の測定 その3 リン化ガリウム



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