NF EN 60749-31:2003
半導体デバイス - 機械的および気候的試験方法 - 第 31 部: プラスチックパッケージされたデバイスの可燃性 (内部火災原因の場合)
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NF EN 60749-31:2003
規格番号
NF EN 60749-31:2003
制定年
2003
出版団体
Association Francaise de Normalisation
最新版
NF EN 60749-31:2003
NF EN 60749-31:2003 発売履歴
2003
NF EN 60749-31:2003
半導体デバイス - 機械的および気候的試験方法 - 第 31 部: プラスチックパッケージされたデバイスの可燃性 (内部火災原因の場合)
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