ASTM E801-16 電子機器の放射線検査の品質を管理するための標準的な慣行規格と仕様

範囲: 1.1 この実施は、電子デバイスの内部不連続部、異物、部品の欠落、ワイヤの圧着または断線、およびキャビティ、封止材料、または基板のはんだ接合部の欠陥についての電子デバイスの X 線検査に関するものです。この実務で表明されている要件は、放射線画像の品質と再現性を制御することを目的としており、撮影される電子機器の受容性や品質を制御することを目的としたものではありません。注 1 - 方法論、安全性および保護に関する関連情報については、次の出版物を参照してください。ガイド E94 および E1000、および「非医療用 X 線および密閉ガンマ線源、エネルギー最大 10 MeV の機器設計を使用した設置に関する一般安全基準」 1.2 実践 E543 に記載されている非破壊検査機関が試験を実施するために使用される場合、その試験機関は実践 E543 の要件を満たす必要があります。 1.3 この規格は、その使用に関連する安全上の懸念がある場合、そのすべてに対処することを目的とするものではありません。適切な安全衛生慣行を確立し、使用前に規制上の制限の適用可能性を判断することは、この規格のユーザーの責任です。

ASTM E801-16 規範的参照