NF C96-022-36*NF EN 60749-36:2003
半導体デバイスの機械的および気候的試験方法 第 36 部: 定常状態の加速

規格番号

NF C96-022-36*NF EN 60749-36:2003

制定年

2003

出版団体

Association Francaise de Normalisation

最新版

NF C96-022-36*NF EN 60749-36:2003

NF C96-022-36*NF EN 60749-36:2003 発売履歴

• 2003 NF C96-022-36*NF EN 60749-36:2003 半導体デバイスの機械的および気候的試験方法 第 36 部: 定常状態の加速