UNE-EN 60749-30:2005/A1:2011
半導体装置の機械的および気候的試験方法 パート 30: 信頼性試験前の非気密表面実装機器のプレコンディショニング

規格番号

UNE-EN 60749-30:2005/A1:2011

制定年

2011

出版団体

AENOR

最新版

UNE-EN 60749-30:2005/A1:2011

UNE-EN 60749-30:2005/A1:2011 発売履歴

• 2011 UNE-EN 60749-30:2005/A1:2011 半導体装置の機械的および気候的試験方法 パート 30: 信頼性試験前の非気密表面実装機器のプレコンディショニング
• 2005 UNE-EN 60749-30:2005 半導体デバイスの機械的および気候的試験方法 パート 30: 信頼性試験前の非気密表面実装デバイスのプレコンディショニング