NF C96-022-35*NF EN 60749-35:2006
半導体デバイスの機械的および気候的試験方法 パート 35: プラスチック封止された電子部品の音響顕微鏡法

規格番号

NF C96-022-35*NF EN 60749-35:2006

制定年

2006

出版団体

Association Francaise de Normalisation

最新版

NF C96-022-35*NF EN 60749-35:2006

NF C96-022-35*NF EN 60749-35:2006 発売履歴

• 2006 NF C96-022-35*NF EN 60749-35:2006 半導体デバイスの機械的および気候的試験方法 パート 35: プラスチック封止された電子部品の音響顕微鏡法