DB13/T 5696-2023
高温逆バイアス試験に基づくGaN HEMT RFパワーデバイスの欠陥の迅速スクリーニング方法 (英語版)

規格番号

DB13/T 5696-2023

言語

中国語版, 英語で利用可能

制定年

2023

出版団体

Hebei Provincial Standard of the People's Republic of China

最新版

DB13/T 5696-2023

DB13/T 5696-2023 発売履歴

• 2023 DB13/T 5696-2023 高温逆バイアス試験に基づくGaN HEMT RFパワーデバイスの欠陥の迅速スクリーニング方法