T/CNIA 0141-2022
誘導結合プラズマ質量分析法による多結晶シリコン製造に使用される水素ガス中の金属不純物含有量の測定 (英語版)
ホーム
T/CNIA 0141-2022
規格番号
T/CNIA 0141-2022
言語
中国語版,
英語で利用可能
制定年
2022
出版団体
Group Standards of the People's Republic of China
最新版
T/CNIA 0141-2022
範囲
この文書は、誘導結合プラズマ質量分析法 (ICP- MS)。 。
T/CNIA 0141-2022 発売履歴
2022
T/CNIA 0141-2022
誘導結合プラズマ質量分析法による多結晶シリコン製造に使用される水素ガス中の金属不純物含有量の測定
© 著作権 2024