ASTM D8352-20 線回折によるゼオライトベータの相対結晶化度を決定するための標準試験方法規格と仕様

範囲: 1.1 この試験方法は、ゼオライトの X 線回折 (XRD) パターンから選択されたピークを使用して、ゼオライトベータを含むサンプルの相対結晶化度を決定する手順をカバーします。 1.2 この試験方法では、サンプルゼオライトベータの XRD パターンの一部の強度と、参照ゼオライトベータのパターンの対応する部分の強度の比である数値が得られます。パーセントで表される強度比は、ゼオライトベータの XRD 相対結晶化度パーセントと表示されます。このタイプの比較はゼオライト技術で一般的に使用され、結晶化度パーセントと呼ばれることがよくあります。 1.3 この規格は、その使用に関連する安全上の懸念がある場合、そのすべてに対処することを目的とするものではありません。適切な安全、健康、および環境慣行を確立し、使用前に規制上の制限の適用可能性を判断するのは、この規格のユーザーの責任です。 1.4 この国際規格は、世界貿易機関貿易技術障壁 (TBT) 委員会によって発行された国際規格、ガイドおよび推奨事項の開発のための原則に関する決定で確立された、国際的に認められた標準化原則に従って開発されました。

ASTM D8352-20 規範的参照