NF C96-022-40*NF EN 60749-40:2012
半導体デバイスの機械的・気候的試験方法 第40回 ひずみゲージを用いた基板レベルの落下試験方法

規格番号

NF C96-022-40*NF EN 60749-40:2012

制定年

2012

出版団体

Association Francaise de Normalisation

最新版

NF C96-022-40*NF EN 60749-40:2012

NF C96-022-40*NF EN 60749-40:2012 発売履歴

• 2012 NF C96-022-40*NF EN 60749-40:2012 半導体デバイスの機械的・気候的試験方法 第40回 ひずみゲージを用いた基板レベルの落下試験方法