DIN EN 62374:2008-02
半導体デバイス - ゲート絶縁膜の時間依存性絶縁破壊 (TDDB) 試験
- 規格番号
- DIN EN 62374:2008-02
- 制定年
- 2008
- 出版団体
- German Institute for Standardization
- 最新版
- DIN EN 62374:2008-02
DIN EN 62374:2008-02 発売履歴
- 2008 DIN EN 62374:2008-02 半導体デバイス - ゲート絶縁膜の時間依存性絶縁破壊 (TDDB) 試験
- 2008 DIN EN 62374:2008 半導体デバイス、ゲート絶縁膜の時間依存性絶縁破壊 (TDDB) 試験
