DIN EN 62374:2008-02
半導体デバイス - ゲート絶縁膜の時間依存性絶縁破壊 (TDDB) 試験

規格番号
DIN EN 62374:2008-02
制定年
2008
出版団体
German Institute for Standardization
最新版
DIN EN 62374:2008-02

DIN EN 62374:2008-02 発売履歴

  • 2008 DIN EN 62374:2008-02 半導体デバイス - ゲート絶縁膜の時間依存性絶縁破壊 (TDDB) 試験
  • 2008 DIN EN 62374:2008 半導体デバイス、ゲート絶縁膜の時間依存性絶縁破壊 (TDDB) 試験
半導体デバイス - ゲート絶縁膜の時間依存性絶縁破壊 (TDDB) 試験



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