DIN EN 62374:2008-02
半導体デバイス - ゲート絶縁膜の時間依存性絶縁破壊 (TDDB) 試験
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DIN EN 62374:2008-02
規格番号
DIN EN 62374:2008-02
制定年
2008
出版団体
German Institute for Standardization
最新版
DIN EN 62374:2008-02
DIN EN 62374:2008-02 発売履歴
2008
DIN EN 62374:2008-02
半導体デバイス - ゲート絶縁膜の時間依存性絶縁破壊 (TDDB) 試験
2008
DIN EN 62374:2008
半導体デバイス、ゲート絶縁膜の時間依存性絶縁破壊 (TDDB) 試験
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