NF C96-022-3*NF EN 60749-3:2017
半導体デバイスの機械的・気候的試験方法 第3部：外観目視検査

規格番号

NF C96-022-3*NF EN 60749-3:2017

制定年

2017

出版団体

Association Francaise de Normalisation

最新版

NF C96-022-3*NF EN 60749-3:2017

NF C96-022-3*NF EN 60749-3:2017 発売履歴

• 2017 NF C96-022-3*NF EN 60749-3:2017 半導体デバイスの機械的・気候的試験方法 第3部：外観目視検査