KS C IEC 60749-4:2020
半導体デバイス - 機械的および気候的試験方法 パート 4: 湿度熱定常状態高度加速ストレス試験 (HAST)

規格番号

KS C IEC 60749-4:2020

制定年

2020

出版団体

Korean Agency for Technology and Standards (KATS)

最新版

KS C IEC 60749-4:2020

KS C IEC 60749-4:2020 発売履歴

• 2020 KS C IEC 60749-4:2020 半導体デバイス - 機械的および気候的試験方法 パート 4: 湿度熱定常状態高度加速ストレス試験 (HAST)
• 2003 KS C IEC 60749-4:2003 半導体デバイス 機械的および気候的試験方法 パート 4: 湿熱、定常状態、高度に加速されたストレス試験