UNE-EN 62373:2006
金属酸化物、半導体、電界効果トランジスタ (MOSFET) のバイアス温度安定性試験

規格番号

UNE-EN 62373:2006

制定年

2006

出版団体

ES-UNE

最新版

UNE-EN 62373:2006

UNE-EN 62373:2006 発売履歴

• 2006 UNE-EN 62373:2006 金属酸化物、半導体、電界効果トランジスタ (MOSFET) のバイアス温度安定性試験