EN 60749-29:2003
半導体デバイスの機械的および気候的試験方法 第 29 部: ラッチアップ試験

規格番号

EN 60749-29:2003

制定年

2003

出版団体

CENELEC - European Committee for Electrotechnical Standardization

状態

入れ替わる

に置き換えられる

EN 60749-29:2011

最新版

EN 60749-29:2011

EN 60749-29:2003 発売履歴

• 2011 EN 60749-29:2011 半導体デバイスの機械的および気候的試験方法 第 29 部: ラッチアップ試験
• 2003 EN 60749-29:2003 半導体デバイスの機械的および気候的試験方法 第 29 部: ラッチアップ試験