UNE-EN 60749-40:2011
半導体デバイスの機械的・気候的試験方法 第40回 ひずみゲージを用いた基板レベルの落下試験方法

規格番号

UNE-EN 60749-40:2011

制定年

2011

出版団体

ES-UNE

最新版

UNE-EN 60749-40:2011

UNE-EN 60749-40:2011 発売履歴

• 2011 UNE-EN 60749-40:2011 半導体デバイスの機械的・気候的試験方法 第40回 ひずみゲージを用いた基板レベルの落下試験方法