IEEE 1F-1958
テストデータ統計分析ガイドラインレポート

規格番号

IEEE 1F-1958

制定年

1958

出版団体

IEEE - The Institute of Electrical and Electronics Engineers@ Inc.

最新版

IEEE 1F-1958

範囲

「はじめに AIEE No. 1@ に記載されているように、さまざまな使用条件下での電気絶縁材料および完全な絶縁システムの推定寿命を決定するために、加速寿命試験が推奨されます。 絶縁劣化を加速するために、さまざまな温度で寿命試験を実施するための推奨手順」 AIEE ID および IE で概要が説明されています。 AIEE 出版物 No. 57@ 65@ 510 および 511 は、この目的のために開発された試験手順の例です。 このような試験からの寿命データが異なる温度で取得された後、問題は、結果として得られたデータを評価することですこれにより、絶縁体の期待寿命を推定することができます。 この目的のために、@ 期待寿命は温度の関数として考慮されます。 この関係の最も可能性の高い形式@ とその信頼性@ は、ここで概説する統計手順によって決定されます。 化学反応 @ の「速度係数」の温度依存性を記述するアレニウスの式 @ を使用して、絶縁寿命と温度の関係を近似できることを示しています。 この式は、絶縁寿命の対数が絶対温度の逆数の一次関数であることを示しています。 回帰分析は、絶縁寿命の対数を絶対温度の逆数に関連付ける直線の傾きと切片の最良の推定値を決定するために使用される手法です。 」

IEEE 1F-1958 発売履歴

• 1958 IEEE 1F-1958 テストデータ統計分析ガイドラインレポート