IEC 60352-3:2020
無はんだ接続 パート 3: アクセス可能な絶縁変位 (ID) 接続 一般要件のテスト方法と実践的なガイダンス

規格番号
IEC 60352-3:2020
制定年
2020
出版団体
International Electrotechnical Commission (IEC)
最新版
IEC 60352-3:2020

IEC 60352-3:2020 発売履歴

  • 2020 IEC 60352-3:2020 無はんだ接続 パート 3: アクセス可能な絶縁変位 (ID) 接続 一般要件のテスト方法と実践的なガイダンス
  • 1995 IEC 60352-3:1993/COR1:1995 正誤表 1 はんだなし接続パート 3: はんだなしでアクセス可能な圧接接続の一般要件、試験方法および実践ガイドライン
  • 1993 IEC 60352-3:1993 無はんだ接続部 パート 3: アクセス可能な無はんだ圧接接続の一般要件、テスト方法および使用説明書
無はんだ接続 パート 3: アクセス可能な絶縁変位 (ID) 接続 一般要件のテスト方法と実践的なガイダンス



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