NF EN 60749-23:2004
半導体デバイス - 機械的および気候的試験方法 - パート 23: 高温での動作寿命

規格番号

NF EN 60749-23:2004

制定年

2004

出版団体

Association Francaise de Normalisation

最新版

NF EN 60749-23:2004

NF EN 60749-23:2004 発売履歴

• 2004 NF EN 60749-23:2004 半導体デバイス - 機械的および気候的試験方法 - パート 23: 高温での動作寿命