NF EN 60749-35:2006
半導体デバイス - 気候および機械的試験方法 - パート 35: プラスチックでパッケージ化された電子部品の音響顕微鏡検査

規格番号

NF EN 60749-35:2006

制定年

2006

出版団体

Association Francaise de Normalisation

最新版

NF EN 60749-35:2006

NF EN 60749-35:2006 発売履歴

• 2006 NF EN 60749-35:2006 半導体デバイス - 気候および機械的試験方法 - パート 35: プラスチックでパッケージ化された電子部品の音響顕微鏡検査