GB/T 8760-2020
ガリウムヒ素単結晶の転位密度の試験方法 (英語版)
- 規格番号
- GB/T 8760-2020
- 言語
- 中国語版, 英語で利用可能
- 制定年
- 2020
- 出版団体
- 国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会
- 最新版
- GB/T 8760-2020
- 交換する
- GB/T 8760-2006
- 範囲
- この規格は、亜鉛ヒ素の単一グレードの転位密度の試験方法を規定しています。 この規格は、4100 面および (111) 面上の前面ヒ素の単一転位密度の試験に適用され、試験範囲は 0 cm から 100,000 cm です。
GB/T 8760-2020 規範的参照
- GB/T 14264 半導体材料用語
GB/T 8760-2020 発売履歴
- 2020 GB/T 8760-2020 ガリウムヒ素単結晶の転位密度の試験方法
- 2006 GB/T 8760-2006 ガリウムヒ素単結晶の転位密度の測定方法
- 1988 GB/T 8760-1988 ガリウムヒ素単結晶の転位密度の測定方法
