IEEE C37.26-2003
低電圧インダクタ試験回路の力率測定方法ガイド

規格番号

IEEE C37.26-2003

制定年

2003

出版団体

IEEE - The Institute of Electrical and Electronics Engineers@ Inc.

状態

入れ替わる 2014-10

に置き換えられる

IEEE C37.26-2014

最新版

IEEE C37.26-2014

範囲

このガイドでは、誘導性低電圧 (1000 ボルト以下) テスト回路の力率の測定に使用される 3 つの方法について説明します。 これらの方法は任意の周波数で使用できます。 ただし、表内の値は 60 Hz 専用です。 これらの方法は次のとおりです:1) 比率法2) DC 減分法3) 位相関係法表 1 に、さまざまなレベルのテスト電流およびさまざまなレベルの力率に使用する推奨方法を示します。 低電圧テスト回路@で説明した方法は、より高い電圧でも使用できます。

IEEE C37.26-2003 発売履歴

• 2014 IEEE C37.26-2014 低電圧（AC1000V以下）インダクタ試験回路の力率測定方法ガイド
• 2003 IEEE C37.26-2003 低電圧インダクタ試験回路の力率測定方法ガイド
• 1970 IEEE C37.26-1972 低電圧誘導試験回路の力率測定方法に関する IEEE 標準ガイド
• 1971 IEEE C37.26-1971 低電圧インダクタ試験回路の力率測定方法の標準ガイド