NF EN 62373:2006
金属酸化膜半導体電界効果トランジスタ (MOSFET) のバイアス温度安定性試験

規格番号

NF EN 62373:2006

制定年

2006

出版団体

Association Francaise de Normalisation

最新版

NF EN 62373:2006

NF EN 62373:2006 発売履歴

• 2006 NF EN 62373:2006 金属酸化膜半導体電界効果トランジスタ (MOSFET) のバイアス温度安定性試験