IEEE 1181-1991
CMOS および BiCMOS 集積回路プロセス特性評価のためのラッチアップ テスト方法の推奨実践方法

規格番号

IEEE 1181-1991

制定年

1991

出版団体

IEEE - The Institute of Electrical and Electronics Engineers@ Inc.

最新版

IEEE 1181-1991

IEEE 1181-1991 発売履歴

• 1991 IEEE 1181-1991 CMOS および BiCMOS 集積回路プロセス特性評価のためのラッチアップ テスト方法の推奨実践方法