IEEE Std 660-1986
半導体メモリのテストパターン言語に関するIEEE規格

規格番号

IEEE Std 660-1986

制定年

1986

出版団体

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)

最新版

IEEE Std 660-1986

範囲

この規格の目的は、メモリ デバイスの機能テストを記述するための共通言語を確立することです。 その言語定義には、メモリ デバイスの機能テストを指定するために必要な語彙と文法が含まれています。 この言語は、テスターをプログラミングするための言語ではなく、一般的な記述言語として使用することを目的としています。 その結果、文法と構文は次のように定義されます。

IEEE Std 660-1986 発売履歴

• 1986 IEEE Std 660-1986 半導体メモリのテストパターン言語に関するIEEE規格