NF C96-017*NF EN 62374:2008
半導体デバイスのゲート絶縁膜の経時絶縁破壊 (TDDB) 試験

規格番号

NF C96-017*NF EN 62374:2008

制定年

2008

出版団体

Association Francaise de Normalisation

最新版

NF C96-017*NF EN 62374:2008

NF C96-017*NF EN 62374:2008 発売履歴

• 2008 NF C96-017*NF EN 62374:2008 半導体デバイスのゲート絶縁膜の経時絶縁破壊 (TDDB) 試験