IEEE Std C62.35-2010
アバランシェ接合半導体サージ保護デバイスアセンブリのIEEE標準試験方法
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IEEE Std C62.35-2010
規格番号
IEEE Std C62.35-2010
制定年
2010
出版団体
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
状態
入れ替わる
2018-12
に置き換えられる
IEEE Std C62.35-2010/COR 1-2018
最新版
IEEE Std C62.35-2010/COR 1-2018
範囲
この規格では、1000 V rms または 1200 V dc 以下の電圧のシステムでサージ保護に使用されるアバランシェ ブレークダウン ダイオードについて説明します。 アバランシェ ブレークダウン ダイオード サージ サプレッサは、順方向または逆方向のいずれかで動作できる半導体ダイオードです。 このコンポーネントは 1 つのパッケージであり、さまざまな組み合わせで組み立てることができます。
IEEE Std C62.35-2010 発売履歴
2018
IEEE Std C62.35-2010/COR 1-2018
アバランシェ接合半導体サージ保護コンポーネントの IEEE 標準試験方法の修正事項 1
2010
IEEE Std C62.35-2010
アバランシェ接合半導体サージ保護デバイスアセンブリのIEEE標準試験方法
0000
IEEE Std C62.35-1987(R1993)
1989
IEEE Std C62.35-1987
アバランシェ接合半導体サージ保護装置の IEEE 標準テスト仕様
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