IEEE 301-1969
半導体放射線検出器（電離放射線用）用増幅器およびプリアンプの試験手順

規格番号

IEEE 301-1969

制定年

1969

出版団体

IEEE - The Institute of Electrical and Electronics Engineers@ Inc.

状態

入れ替わる

に置き換えられる

IEEE 301-1976

最新版

IEEE 301-1988

範囲

「前書き 半導体放射線検出器は、電離放射線の検出に近年広く使用されるようになりました。 シリコン検出器とゲルマニウム検出器はどちらも開発されており、シリコンは重荷電粒子の検出と分析に主な用途が見出されています。 ゲルマニウム検出器は比較的高原子量です。 ガンマ線の検出と分析には、（シリコンと比較して）数が多く、感知容積が大きい半導体検出器が広く使用されるようになり、半導体検出器の出現により、その能力を活用できる特性を備えた電子機器の開発が促進され、望ましいものとなっています。 この試験手順は、ここに記載されているすべての試験が必須@であることを示唆するものではなく、実施される試験は手順に従って実行されるべきであるということのみを意味します。 関連文書は、「半導体放射線検出器の試験手順@」IEEE Standards Publication No. 300 です。 研究所は、時間と知識を惜しみなく提供し、実験作業を実施してくださった方々に感謝の意を表したいと思います。 IEEE 出版物の多くはこれに基づいています。 この出版物は、IEEE Nuclear Science Group の放射線検出器委員会によって作成されました。 委員会のメンバーは次のとおりです。 」

IEEE 301-1969 発売履歴

• 1988 IEEE 301-1988 電離放射線検出器用アンプおよびプリアンプの試験手順
• 1976 IEEE 301-1976 電離放射線用半導体放射線検出器の増幅器およびプリアンプの標準試験手順 (R 1982)
• 1969 IEEE 301-1969 半導体放射線検出器（電離放射線用）用増幅器およびプリアンプの試験手順