KS D 0257-2002(2022)
シリコン単結晶の少数キャリア寿命を測定する光伝導減衰法

規格番号

KS D 0257-2002(2022)

制定年

2002

出版団体

Korean Agency for Technology and Standards (KATS)

最新版

KS D 0257-2002(2022)

KS D 0257-2002(2022) 発売履歴

• 2022 KS D 0257-2022 光伝導減衰法によるシリコン単結晶中の少数キャリア寿命の測定
• 0000 KS D 0257-2002(2017)
• 2002 KS D 0257-2002 光伝導減衰測定法を用いたシリコン単結晶の少数キャリア寿命の求め方
• 0000 KS D 0257-1999