ASTM UOP856-85
レーザー散乱による粉体の粒度分布測定

規格番号

ASTM UOP856-85

制定年

2002

出版団体

American Society for Testing and Materials (ASTM)

状態

入れ替わる

に置き換えられる

ASTM UOP856-07

最新版

ASTM UOP856-07

範囲

この方法は、Leeds & Northrup Microtrac Analyzer を使用して、1.9 ～ 176 mm の範囲の粉末およびスラリーの粒径分布を測定するためのものです。

ASTM UOP856-85 発売履歴

• 2007 ASTM UOP856-07 レーザー拡散法による粉末粒子の粒度分布の測定
• 2002 ASTM UOP856-85 レーザー散乱による粉体の粒度分布測定