TS 101 207-2-1997
ID カード システム、テレコム IC カードと端末、EN 726-7 のテスト方法と適合性テスト、パート 2: テスト スイートの構造とテストの目的 (TSS&TP) (V1.1.1)

規格番号

TS 101 207-2-1997

制定年

1997

出版団体

ETSI - European Telecommunications Standards Institute

状態

入れ替わる 1999-06

に置き換えられる

TS 101 207-2-1999

最新版

TS 101 207-2-1999

範囲

このドキュメントでは、テスト スイートの構造とテストの目的 (TSSTP) を提供します。 これは、関連要件@ に準拠し、ISO/IEC 9647-7 [14] および ETS 300 406 [12] で与えられる関連ガイダンスに従って、EN 726-7 [9] で定義されたセキュリティ モジュール (SM) に適用されます。 ここで説明する一連のテスト目的は、セキュリティ モジュールが標準 EN 726-7 [9] (約 140 のテスト) に準拠していることを証明することを目的としており、TS 101 200-3 用に作成されたテスト目的の拡張とみなされます。 [8] (約 645 テスト)@ ただし、テストの数とテストの深さは、製品認定テストとしては十分ではありません。 製品の認定には、少なくとも次のテストを追加する必要があります。 - ユーザー プロファイル テスト SM が特定のアプリケーションのニーズに適合するかどうかをテストします。 ここでは、考えられるすべてのシナリオを実行する必要があります。 - ライフ サイクル テスト X トランザクション@で使用された後の SM の動作をテストします。 ここで、X はプログラマブル メモリの保証されたライフ サイクルの倍数です。 - ストレス テスト 不足電圧、過電圧、高すぎるまたは低すぎる周波数、VCC/VPP ラインのスパイクなどの物理的ストレスにおける SM の動作をテストします。 - パフォーマンス テスト 実装が定義された時間制限内で定義されたシナリオを処理できるかどうかをテストします。 - キーテスト SM 内の各キーは、指定された目的のために少なくとも 1 回使用され、結果がチェックされる必要があります。 - 追加のファイル テスト 可能であれば、SM 内に存在する各ファイルを選択して読み出す必要があります。 SELECT に対する答えとファイルの内容を仕様と照らし合わせてチェックする必要があります。 追加機能のテスト 仕様に準拠するために、SM は少なくとも次の条件でテストする必要があります。 - 許可された各パラメータ@、または少なくともその極値。 - 少なくとも 1 つの無効なパラメータ。 - 各リターン コードは少なくとも 1 回は呼び出される必要があります。 - 関数の正常な動作をテストする必要があります。 それに加えて、以下の @ テストを追加できます。 - すべての無効なパラメータの組み合わせ。 - 未定義の状況。 等

TS 101 207-2-1997 発売履歴

• 1999 TS 101 207-2-1999 ID カード システム、電気通信 IC カードと端末、EN 726-7 のテスト方法と適合性テスト、パート 2: テスト スイートの構造とテスト目的 (TSS&TP) 仕様 (V1.2.1)
• 1997 TS 101 207-2-1997 ID カード システム、テレコム IC カードと端末、EN 726-7 のテスト方法と適合性テスト、パート 2: テスト スイートの構造とテストの目的 (TSS&TP) (V1.1.1)