KS C IEC 60749-2:2020
半導体デバイス - 機械的および気候的試験方法 - パート 2: 低気圧

規格番号
KS C IEC 60749-2:2020
制定年
2020
出版団体
Korean Agency for Technology and Standards (KATS)
最新版
KS C IEC 60749-2:2020

KS C IEC 60749-2:2020 発売履歴

  • 2020 KS C IEC 60749-2:2020 半導体デバイス - 機械的および気候的試験方法 - パート 2: 低気圧
  • 2004 KS C IEC 60749-2:2004 半導体デバイス 機械的および気候的試験方法 パート 2: 低圧



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