UNE-EN 60749-27:2006
半導体デバイスの機械的および気候的試験方法 第 27 部: 静電気放電 (ESD) 感度試験機モデル (MM)

規格番号

UNE-EN 60749-27:2006

制定年

2006

出版団体

ES-UNE

状態

入れ替わる

に置き換えられる

UNE-EN 60749-27:2006/A1:2012

最新版

UNE-EN 60749-27:2006/A1:2012

UNE-EN 60749-27:2006 発売履歴

• 2013 UNE-EN 60749-27:2006/A1:2012 半導体デバイスの機械的および気候的試験方法 第 27 部: 静電気放電 (ESD) 感度試験機モデル (MM)
• 2006 UNE-EN 60749-27:2006 半導体デバイスの機械的および気候的試験方法 第 27 部: 静電気放電 (ESD) 感度試験機モデル (MM)