BS EN IEC 62149-12:2023
光ファイバーアクティブコンポーネントとデバイス性能規格 光ファイバーアナログ無線システム用の分散帰還型レーザーダイオードデバイス

規格番号

BS EN IEC 62149-12:2023

制定年

2023

出版団体

British Standards Institution (BSI)

最新版

BS EN IEC 62149-12:2023

範囲

適用範囲 IEC 62149 のこの部分は、アナログ ラジオ オーバー ファイバー (RoF) システムで使用される分布帰還型レーザー ダイオード (DFB-LD) デバイスの性能仕様を定義します。 これは、明確に定義された条件、重大度、合否基準による一連のテストと測定とともに、製品のパフォーマンス要件を定義します。 テストは、製品が性能要件を満たす能力を証明するために「1 回限り」で実行することを目的としています。

BS EN IEC 62149-12:2023 規範的参照

• IEC 60749-6 半導体デバイス 機械的および気候的試験方法 パート 6: 高温での保管。
• IEC 60749-7 半導体デバイス 機械的および気候的試験方法 パート 7: その他の残留ガスの分析および内部水分含有量の測定。
• IEC 60825-1 解釈表 2 レーザー製品の安全性パート 1: 機器の分類と要件
• IEC 60950-1 情報技術機器のセキュリティ パート 1 一般要件*， 2024-04-10 更新するには
• IEC 61300-2-4 光ファイバー相互接続デバイスと受動コンポーネント 基本的なテストおよび測定手順 パート 2-4: テスト 光ファイバーまたはケーブルの保持
• IEC 62149-1 光ファイバーのアクティブコンポーネントとデバイス、性能基準、パート 1: 一般原則とガイダンス。

BS EN IEC 62149-12:2023 発売履歴

• 2023 BS EN IEC 62149-12:2023 光ファイバーアクティブコンポーネントとデバイス性能規格 光ファイバーアナログ無線システム用の分散帰還型レーザーダイオードデバイス